30万的光束完全重构测距方式 Swift-E发布三维测距传感器

随着信息技术的发展，智能传感器的功能在逐步增强。全球领先的工业自动化和数字化服务商罗克韦尔自动化率先将3D ToF（Time of Flight，飞行时间）技术导入工业自动化领域，其创新产品——Swift-E三维测距传感器又将带来怎样的变革？

Swift-E三维测距传感器

Swift-E™是一种基于3D ToF技术的新型传感器，也是罗克韦尔自动化针对物流仓储应用场景专门重构设计的一款新产品。它何以开启智能测量？

ToF特技：3D感测，快速可靠

3D ToF技术的强大之处就在于它将调制的红外光源投射到目标物体上，从光源到表面的距离可以通过计算检测反射光束所需的时间来测量。

Swift-E的独特优势在于它发射出30万的光束可以覆盖一个区域而不是一个点，因此能快速、可靠、完全可重构地完成距离测量或高度测量，为验证各种工业应用中物体完整性和高度测量提供了无接触、宽范围的测量解决方案，更好地满足用户对于更灵活的制造方法和更强的空间意识的需求。

Swift-E集成光源，无需安装外部照明装置。毫秒级响应速度，让检测更加高效。

智能互联特技：一根网线串起所有

Swift-E整体设计简洁、智能，互联感十足，一根网线串起所有，操作简易。

产品浓厚的重金属外观设计，充斥着满满的工业风，与传统传感器相比，造型十分独特。除了设备后端的电源与以太网接口，你在它身上找不到其他按键。

使用时，你只需在Web界面上设定需要采集的检测区域，如此便能简化大多数工业环境中设备及系统部署。

通过EtherNet/IP，Swift-E能与Allen-Bradley® Logix控制器快速集成，PanelView™ HMI显示出实时数据。搭配使用Studio 5000®平台，你能够尽可能地提高生产力。

可重构特技：30万束光，每束光都能独立计算

Swift-E的核心特技，非可重构莫属。

首先，用户在设置过程中定义虚拟感测区域；

随后，Swift-E将30万束红外线投射到监控区域中，光线从目标物反射回来，设备中每个像素都会独立收集反射光，通过每束光线返回的时间差异单独计算出每个光源到目标物的距离。

系统会在虚拟感测区域内验证像素信息，并根据任务计算平均高度或距离，最终对照标准参数，显示目标物是否符合规定要求。

无论是高度测量，还是存在感测，Swift-E都有能力支持多达255个不同的模板，每个模板至多设置64个虚拟感测区域。这些模板可全部存储在设备上，你只需通过EtherNet/IP接口，就能立即调出模板，同时允许控制器随时定义正在使用的感测配置文件。

举个例子，正如前文介绍的那样，Swift-E本身就是罗克韦尔自动化在通用款Swift-G基础上重构而成的。

通讯方面：

Swift-E集成了EtherNet/IP，能够更好地与工业控制器进行通讯和配合。比如，它能与Allen-Bradley® Logix控制器无缝集成，可在Studio 5000®平台上自由使用。

行业专用性方面：

根据物流输送、堆垛等应用特点，罗克韦尔自动化基于Swift-G开发固化相应的算法，集成在Swift-E传感器中。行业用户操作起来更加简单，实用性更强。

智能检测应用：一台Swift-E，测量一次就够

Swift-E提供了一个简单、灵活的机制，可以同时测量多个物体的高度或距离。

640 x 480像素分辨率，再加上43° x 33°的镜头视野，可提供通常在0.5m至6m之间范围内的高质量感测，可以满足物流仓储应用场景需要。

自动堆垛

在堆垛系统中，验证所有产品是否已从工作台转移到货盘是一个常见的挑战。借助Swift-E，用户可以验证每个货盘的完整性，从而确保货盘堆叠的完整性，同时还能存储255个不同的货盘布局哦~

装箱检查

许多现代装箱系统都使用机器人或气动传输系统来填充产品箱。验证箱子是否填充至关重要，也非常困难。Swift-E可以提供高度或完整性检查，以确保所有箱子都按预期填充。

完整性检查

许多工业系统必须验证产品的完整性或产品是否存在。Swift-E提供了广泛的非接触式解决方案，可用于验证各种工业应用中物品的完整性或高度。

此外，Swift-E还能应用于分层检测、灌装验证、粗略测量等检测场景。