K 2019：西科拉的光学离线检测系统可用于检测塑料颗粒的颜色偏差

先进测量控制技术制造商和全球供应商西科拉将在2019年10月16-23日举办的K2019展会上针对软管和管材、板材以及塑料行业的质量控制和工艺优化推出一系列广泛的创新系统组合。携带塑料颗粒的观众可通过实验室测试系统PURITY CONCEPT V进行现场检测和分析。观众还可在“创意角”上提出有关软管和管材以及塑料测量技术的想法。来自德国不莱梅的这家公司将在K展上的亮相将带来纯粹的创新。

 Harry Prunk, Executive Board SIKORA AG

除了控制和分拣技术，西科拉还可提供用于塑料颗粒样品检测的光学检测系统。PURITY CONCEPT V可自动检测少量颗粒，因此适用于入库产品检测、生产控制和后续检测的质量保证。该系统能够可靠地检测黑斑等杂质。PURITY CONCEPT V（V=光学）配备彩色相机，因此也可检测颗粒的颜色偏差。

利用PURITY CONCEPT V进行样品检测和分析的过程中，多达3,000个（100g）放置在样品盘上的颗粒将通过检测区域。相机在数秒内检查材料，检测并分析受污染的颗粒。检测到的杂质在屏幕图像和样品托盘上以颜色突出显示。

PURITY CONCEPT V包含一个分辨率为50µm的CMOS线阵扫描彩色相机。通过结合长寿命白色LED灯，它还可以拍摄被检样品的高分辨率图像。

如需调整检测灵敏度等特定参数，可由操作员通过选择配方参数来完成。通过调整可在聚焦深色或黑色杂质的同时隐藏小的灰色杂质。

因此，PURITY CONCEPT V具有可靠的样品检测能力，可用于检测黑色斑点、识别颜色偏差并实现精确分配和分析。此外，系统还可提供包含有关被检测颗粒所有信息以及测试结果摘要的测试证书。因此，它为材料发布和货品交付提供了必要条件。

展位号：10号展馆，H21展位