欢迎来到荣格工业资源网
首页 > 白皮书 > 白皮书详情

宽发散光束的测量难题

来源:Ophir

发布时间: 2021-05-22 12:56:03

白皮书简介

在快速增?的市场中,VCSEL、LED、边缘发射和光纤激光器被用于许多敏感应?。为了保证器件的?质量,有必要对光束轮廓进?分析,但那些宽发散光束也对测量系统提出了特殊的要求。?方?,传统光束轮廓仪的孔径太小,无法采集大发散光源的整个光斑。另一方面,由于探测器的量?效率极其依赖?射?,因此无法使?常规探测器精确地测量发散光束。如今,随着 Ophir 宽光束成像仪(WB-I)的开发,这些难题已迎刃而解。WB-I 是一种用于光束轮廓相机的校准光学附件,基于45mm 孔径的漫射器和?于远场测量的成像透镜。。。。

分享到:
打开微信扫一扫并分享
回到顶部

白皮书咨询需求单

姓名:
电话:
邮箱:
公司:
行业:
具体咨询内容: