紧凑、高速且精确：梅特勒托利多适用于小型单个包装产品的新型 X 射线检测系统

梅特勒托利多产品检测推出了一款全新的 X 射线检测系统，即 X34C，该系统专门用于在高速下检测单个包装产品中的污染物。

X34C X 射线检测系统基于紧凑、高速和精确这三个关键设计原则：

占地小：该系统长度仅为 700mm，其中包括了一个集成式剔除装置。这意味着 X34C 可安装在空间有限的生产线上。

高速能力：X34C 的运行速度可达每分钟 120 米，使得产品检测速度首次能够匹配与糖果等行业中用于包装单个产品的高速流动包装机和封口机的速度。这种高速度与紧凑型的结合目前在市场上是独一无二的。

精确的性能：0.4mm 二极管检测机和 100W 优化功率发生器最大限度地提高了检测小污染物的可能性，并有助于降低误剔率。因为这些组件的功率和对比度是针对每个应用自动优化，所以系统并不总是需要以 100W 的全输出功率运行，从而节省了电力。

“我们相信小型糖果和零食制造商会喜欢这款紧凑型 X34C 提供的高速检测，通过该技术可以在单个条状产品离开包装机后立即对其进行快速检测和剔除，提高检测的灵敏度。因为可以剔除单个条状产品而不用剔除整盒包装产品，所以减少了浪费，不仅如此，制造商还能在生产线的这个关键点处保持高水平的生产效率。”梅特勒托利多产品检测销售与产品管理部门全球主管 Mike Pipe 说。

“对于通常难以在现有生产线中安装新设备的制造商而言，由于 X34C 占地小不会对他们的生产造成影响，同时可以因其出色的异物检测水平和生产效率而获益。此外，由于 X34C 可同时完成全面的产品和包装质量检查，很多公司可以对其品牌保护充满信心。”

X34C 与梅特勒托利多其他系列型号的 X 射线检测系统一样，具有许多特色和优点。例如易于使用的操作软件，包括标准 X34 和 X36 系统使用的 ContamPlus™，以及自动化产品设置，减少了操作人员培训的需求，同时增加了生产运行时间，提高了产品安全性。这些方面都有助于降低总拥有成本。

此外，X34C 可连接梅特勒托利多产品检测的 ProdX™ 数据管理软件，支持供应链数字化、合规性和可追溯性。

在硬件方面，X34C 可根据客户要求进行配置，包括在高速下剔除受污染产品的吹气式剔除系统。该 X 射线检测系统采用卫生设计，可从正面轻松够触，便于维护。它的标准防护等级为 IP55，对于需要更高防尘等级的生产环境，还可提供 IP65 防护等级。工厂环境温度较低（低于 30 摄氏度）的客户可以选择通过风扇系统进行主动冷却，从而可以提高系统的环境性能。

总而言之，梅特勒托利多 X34C 是一款快速高效的垂直照射的 X 射线检测系统，针对特定应用设置中单个产品的污染物检测进行了优化：流动包装的糖果、零食和谷物棒以及小包装面包。生产此类产品的制造商，无论是拥有多家工厂的跨国企业，还是拥有一条生产线的中小型企业，都将受益于其速度、更高的检测灵敏度和紧凑的占地。此外，梅特勒托利多 X 射线检测系统备受赞誉的易用性、久经考验的坚固性和可靠性也会让他们受益匪浅。