塑料洁净新突破！SIKORA前沿检测系统助力品质飞跃

 

SIKORA推出PURITY SCANNER ADVANCED在线检测分拣系统和PURITY CONCEPT V实验室检测系统，助力塑料颗粒洁净度控制。

 

前者采用X射线与光学技术，可检测25µm黑点/黄点及50µm金属杂质，适用于多种塑料颗粒；后者为实验室全能型设备，快速检测并生成图像与数据报告。两者提升产品质量与竞争力，减少退货风险。

 

SIKORA诚邀您参加2025国际橡塑展（10J25展台），交流创新技术。

 

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在线品质检测分拣系统 PURITY SCANNER ADVANCED 

 

• 更洁净的材料，意味着更高的品质，更高的产品附加值

 

对于高等级应用的材料，由于这些材料需要应用在医疗、半导体制造、薄膜挤出、航空航天、汽车、中高压和超高压电缆的生产制造领域，其洁净度对产品的最终性能是决定性的因素。因此，对于聚合物制造企业而言，在生产环节中，塑料材料的洁净度控制对于注塑件、型材或薄膜的生产是至关重要的。

 

塑料颗粒洁净度全流程的品质控制要求严格，涉及到原料控制、生产过程控制、成品检测。每批产品需进行全面检测，确保符合标准并提供相关的数据检测分析报告。

 

在生产过程中，塑料颗粒表面可能会出现如黑点或高温黄点等污点，甚至还会产生金属杂质，进而影响最终产品的品质。SIKORA的在线检测及分拣系统PURITY SCANNER ADVANCED，通过将光学和X射线技术的完美组合，可实现对塑料颗粒中最小25µm的黑点/黄点和 50µm 的金属杂质的在线检测和自动分拣，从而确保塑料颗粒的洁净度。

PURITY SCANNER ADVANCED

 

• 多种测量技术满足用户需求

 

PURITY SCANNER ADVANCED 采用了X射线检测技术与可灵活调整的光学系统相结合的检测方式。透明原材料内部、半透明及有色原材料表面上小至25µm的污点可通过最多选配 3 个光学成像系统进行检测。另外，X射线成像系统能够检测出颗粒内部或表面存在的小至 50µm 的金属杂质，适用检测各种塑料颗粒（比如黑色）。系统可以自动检测分拣出含有杂质的颗粒。相较于市场上常见的最多只配备2个光学成像系统的设备，PURITY SCANNER ADVANCED可以实现更精准的检测率。

 

PURITY SCANNER ADVANCED内部构造图

 

• 创新的传输系统与完美的系统集成

 

该系统通过密闭式不锈钢振动坡道进行送料。为了确保最高的洁净度，传输系统是由不锈钢材料（304SS/316SS）制成，因而可以保证传输过程中是洁净的，很好地避免了一些特殊原材料对传统材质的送料系统造成的腐蚀磨损和额外产生的杂质污染。

 

系统结构的合理性确保其易于集成到任一现有或是新的生产线上。该系统可应用于每小时几公斤至最高1000kg/h的生产量。

 

• 专业的数据分析管理 

 

PURITY SCANNER ADVANCED配备专业的数据分析管理（PDAM）系统，可实现在生产期间对检出的污染颗粒进行统计评估。分析结果可按检测到的杂质颗粒的大小与频率分类，也可按其成像系统（光学和X射线成像系统）的杂质颗粒图像库进行分类。检测到的含有杂质的颗粒可全部以图像形式保存。

 

 

•  卓越的技术优势

   

独有的 X 射线 + 光学检测技术：可检测小至25µm的有色杂质以及50µm的金属杂质；采用独特的光学检测系统：更易检出黄色、棕色等杂质，极大提高该类型杂质的检出率；采用具有自主专利的不锈钢振动坡道：避免传送带式输料造成漏料、传送带移位、传送带腐蚀，及传送带磨损带来的二次污染。

 

• PURITY SCANNER ADVANCED 给您带来的投资回报

 

PURITY SCANNER ADVANCED系统能够持续控制材料质量，通过提高产品质量等级进而提高售价，降低索赔风险，消除因为材料污染而造成的退货，从而让产品拥有有力的竞争优势，并为快速回收成本提供保障。

 

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实验室全能型检测分析系统PURITY CONCEPT V

 

而对于生产过程中剔除的杂质颗粒或者是来料检测过程中抽检发现的杂质原料，又该如何进一步的检测和分析呢？SIKORA推出了另外一款功能强大的实验室全能型检测分析系统 PURITY CONCEPT V。

 

 

大部分塑料生产企业主要采用人工抽样检测、压片等传统手段进行检测分析，这些传统的方法不仅消耗时间，还无法保证检测精度和获取准确的数据。

 

在实验室品质控制方面，SIKORA推出的PURITY CONCEPT V是一款全能型实验室设备。该系统配备了一个自动样品台，塑料颗粒/塑料薄膜/塑料压片可放置于样品托盘上，通过一键式操作实现自动检测，该过程仅需数秒，检测系统即可完成对样品的检测并自动生成相应的数据和图像库。

 

系统的分析软件自动对小至50µm的杂质进行检测、显示与评估。该系统还配备一个光标定位投影系统，可直接在样品台上以光标标识杂质颗粒的位置，这样就可以直接将带杂质的颗粒挑拣出来。

 

在进行材料分析评估时，系统会为您提供一份全面的检测报告。报告包含大量材料分析图像，可显示在各种分析模式下整体与局部的杂质图像、彩色光标标注的杂质位置以及完整而广泛的统计学数据。您可以清楚了解哪些样品适合进行分析以及该系统是如何进行样品分析。还可以看到根据所选的分析模式与参数设置，对检测结果产生多大的差异。

 

 

第三十七届中国国际塑料橡胶工业展览（Chinaplas 2025国际橡塑展）将于2025年4月15-18日在深圳国际会展中心（宝安）举办。SIKORA团队诚挚地邀请您在展会期间访问其位于10J25的展台，与之进行深入交流。

 

届时，您可以了解在塑料生产领域中确保塑料颗粒洁净度的在线检测及分拣系统 PURITY SCANNER ADVANCED 与离线式实验室检测系统 PURITY CONCEPT 系统，以及应用于管材生产领域确保管材品质的创新型测量与控制设备（如 CENTERWAVE 6000、X-RAY 6000 PRO 等）。

 

SIKORA期待您的来访！