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CyberOptics推出搭载双MRS传感器的SQ3000-DD™ 3D AOI

来源:CyberOptics 发布时间:2017-08-14 410
智能制造传感器电子芯片电子芯片设计/电子设计自动化(EDA)设计/电子设计自动化(IP类软件) 技术前沿
CyberOptics 推出搭载两个多次反射抑制(MRS)传感器的新型SQ3000-DD 3D自动光学检测(AOI)系统。 
在定于2017年8月29-31日在深圳会展中心举行的华南国际电子生产设备暨微电子工业展(NEPCON South China)期间,全球领先的高精度3D传感技术解决方案开发商和制造商CyberOptics® Corporation (NASDAQ:CYBE)将在1J45展位上推出搭载两个多次反射抑制(MRS)传感器的新型SQ3000-DD 3D自动光学检测(AOI)系统。 
 
该双通道、双传感器系统有效扩展了备受赞誉的一流SQ3000 3D AOI平台。 新型SQ3000-DD 3D AOI实现最大灵活性,可满足不同的印刷电路板(PCB)宽度需求。这一独特设计提供高容量组件检测能力,可便捷地同时在不同通道上检测不同组件和电路板尺寸,甚至还可以从双通道模式切换至单通道模式以检测大型电路板。
 
SQ3000-DD不仅提供PCB检测灵活性,而且提供选择两个相同或两个不同专有MRS传感器的灵活性,两个MRS传感器可精确识别并抑制发光组件和反光焊点引起的多次反射。该新型超高分辨率MRS传感器选项提供高于标准的分辨率和卓越的检测性能,非常适合于需要更高程度的精度和检测可靠性的0201度量和微电子应用。两种MRS传感器选项的独特结构可同时捕获和并行传输多张图像,同时非常先进的3D融合算法将这些图像合并在一起,以生产速度提供显微图像质量。
 
CyberOptics总裁兼首席执行官Subodh Kulkarni博士表示:“我们已对支持MRS的SQ3000 3D AOI平台进行扩展,提供双通道、双传感器解决方案。这一灵活性将允许公司客户能够进一步提高其生产力,实现高容量吞吐量,同时实现前所未有的速度、精度和易用性组合。”
 
同时,该公司还将展出QX250i同时双面AOI系统,该系统为所有应用提供快速、灵活、高性能检测,是回流焊前检测和选择性焊剂检测的理想之选。照度更高的顶层及底层高分辨率选通检测模块(SIM)提供单一的检测和缺陷复检流程平台,可缩短生产线,推动生产力提高约50%。
 
SE600 3D SPI系统提供“真正的”容量测量和世界一流的易用性。该系统设计有最先进的双照明传感器,甚至可以在最小的焊膏印刷上提供最佳的重复精度和重复性。这款屡获殊荣的软件提供全触屏功能和世界一流的用户体验,轻松实现完美检测。
 
SQ3000-DD
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